日本KETT LZ-990膜厚计（涂镀层测厚仪）本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
日本KETT LZ-990膜厚计（涂镀层测厚仪）技术参数：
| 规格型号 | LZ-990 |
| 测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层 |
| 测定范围 | 0～3000um或0～120.0mils |
| 测定精度 | <50um±1um , >50um±2% |
| 分 辨 率 | <100um 0.1um , >100um 1um |
| 功能统计 | 中、英、日、韩四国语言菜单，自动关机，背光设定 ，自动识别。 可针对不同产品保留测量通道，数据可存储，可输出至电脑，可分批统计zui大值、zui小值、平均值、标准差。 配有数据处理软件 |
| 计量单位 | 公制、英制可自由切换 |
| 显示方式 | LCD液晶屏 |
| 操作面板 | 密封防水按键 |
| 随机附件 | 基体/校正标准片/电池/腕带/说明书 |
| 电 源 | DV6V 5#碱性电池×4个 |
| 体 积 | 75mm（W）×100（mmD）×21mm（H） |
| 重 量 | 250g |
