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超声波膜厚计

超声波膜厚计

简要描述:LU-200J超声波膜厚计

产品型号: LU-200J超声波膜厚计

所属分类:膜厚计

更新时间:2015-08-22

详细说明:

测定方法
超声波反射式
测定对象
树脂、玻璃、金属等基体上的涂镀层
测定范围
10~700um
测定精度
<50um±2um    >50um±4%
分辨率
1um
统计功能
测试数/标准偏差
zui大值/zui小值/平均值

信号输出

RS232标准接口

显示方式

LCD数显

操作面板

密封防水按键

附属品

铁基体/校正标准片/测头/电池曲面支架/皮套/说明书

电源

5#碱性电池×6个

体积

本机120(W)×250(D)×55(H)
测头¢63×85(H)

重量

本机800g 测头220g


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